针对极紫外和软X射线常规周期多层膜偏振元件带宽窄的测试困难的现状，王洪昌、王占山著的这本《极紫外与软X射线多层膜偏振元件研究》首次提出了非周期多层膜宽带偏振光学元件的方法，克服了常规周期多层膜带宽窄、测试时元件需要平移或旋转的难题。本书适合高等院校师生参考使用。
