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精密光学元件先进测量与评价

  2020-08-05 00:00:00  

精密光学元件先进测量与评价 本书特色

《精密光学元件先进测量与评价》结合光学测量技术的*新发展,针对目前光学领域中先进光学测量技术进行了详细的探讨,主要涉及技术起源与发展、原理、优缺点、具体的测量设备,以及相关的测量方法和精度。 《精密光学元件先进测量与评价》分为6 章,第1 章归纳了光学元件质量表述和评价方式,阐述了光学干涉测量技术的基本知识与原理;第2~5 章分别介绍了子孔径拼接轮廓测量、接触式轮廓测量、结构光轮廓测量和亚表面损伤检测;第6 章介绍了其他相关的光学测量方法。

精密光学元件先进测量与评价 内容简介

《精密光学元件先进测量与评价》可作为高等院校光学工程等专业高年级本科生和研究生的教材,也可供相关领域的科研人员和工程人员参考。

精密光学元件先进测量与评价

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