电子技术实验与课程设计

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电子技术实验与课程设计

电子技术实验与课程设计

作者:张慧敏

开 本:32开

书号ISBN:9787121292835

定价:

出版时间:2017-01-01

出版社:电子工业出版社

电子技术实验与课程设计 本书特色

本书是根据教育部新的教学改革要求及电子技术课程近几年的教改成果进行编写的。全书分为4章:第1章电子技术实验操作基础,主要介绍常用元器件的识别和正确使用,常用仪器仪表的原理及使用方法;第2章模拟电子技术实验,介绍实验过程中的操作与检测方法;第3章实数字电子技术实验,介绍数电实验过程中的操作与检测方法;第4章电子技术课程设计,结合6个综合实验课题详细分析课程设计的设计思路和设计方法,同时给出参考电路。

电子技术实验与课程设计 目录

第1章 电子技术实验 (1)
1.1 常用元器件的识别与使用 (1)
1.1.1 电阻器 (1)
1.1.2 电容器 (7)
1.1.3 电感器 (11)
1.1.4 半导体二极管 (15)
1.1.5 半导体三极管 (18)
1.2 常用电子仪器的使用 (20)
1.2.1 数字万用表 (20)
1.2.2 数字示波器 (23)
1.2.3 函数/任意波形发生器 (26)

第2章 模拟电子技术实验 (34)
实验2.1 晶体管共射极单管放大器性能测试 (34)
2.1.1 实验目的 (34)
2.1.2 实验原理 (34)
2.1.3 实验设备与器件 (39)
2.1.4 实验内容 (39)
2.1.5 实验报告 (41)
实验2.2 射极输出器(共集电极电路)性能测试 (41)
2.2.1 实验目的 (41)
2.2.2 实验原理 (42)
2.2.3 实验设备与器件 (43)
2.2.4 实验内容 (44)
2.2.5 实验报告 (45)
实验2.3 场效应管放大器性能测试 (45)
2.3.1 实验目的 (45)
2.3.2 实验原理 (45)
2.3.3 实验设备与器件 (48)
2.3.4 实验内容 (48)
2.3.5 实验报告 (49)
实验2.4 负反馈放大器性能测试 (49)
2.4.1 实验目的 (49)
2.4.2 实验原理 (49)
2.4.3 实验设备与器件 (50)
2.4.4 实验内容 (51)
2.4.5 实验报告 (52)
实验2.5 差动放大器性能测试 (52)
2.5.1 实验目的 (52)
2.5.2 实验原理 (52)
2.5.3 实验设备与器件 (54)
2.5.4 实验内容 (54)
2.5.5 实验报告 (56)
实验2.6 集成运算放大器的基本应用(模拟运算电路) (56)
2.6.1 实验目的 (56)
2.6.2 实验原理 (56)
2.6.3 实验设备与器件 (59)
2.6.4 实验内容 (59)
2.6.5 实验报告 (61)
实验2.7 集成运算放大器的基本应用(有源滤波器) (61)
2.7.1 实验目的 (61)
2.7.2 实验原理 (61)
2.7.3 实验设备与器件 (64)
2.7.4 实验内容 (65)
2.7.5 实验报告 (66)
实验2.8 集成运算放大器的基本应用(电压比较器) (66)
2.8.1 实验目的 (66)
2.8.2 实验原理 (66)
2.8.3 实验设备与器件 (68)
2.8.4 实验内容 (68)
2.8.5 实验报告 (69)
实验2.9 集成运算放大器的基本应用(波形发生器) (70)
2.9.1 实验目的 (70)
2.9.2 实验原理 (70)
2.9.3 实验设备与器件 (72)
2.9.4 实验内容 (73)
2.9.5 实验报告 (73)
实验2.10 RC正弦波振荡器的测量与调试 (74)
2.10.1 实验目的 (74)
2.10.2 实验原理 (74)
2.10.3 实验设备与器件 (75)
2.10.4 实验内容 (76)
2.10.5 实验报告 (77)
实验2.11 LC正弦波振荡器的调整与测试 (77)
2.11.1 实验目的 (77)
2.11.2 实验原理 (78)
2.11.3 实验设备与器件 (78)
2.11.4 实验内容 (79)
2.11.5 实验报告 (80)
实验2.12 低频功率放大器(OTL功率放大器)性能测试 (80)
2.12.1 实验目的 (80)
2.12.2 实验原理 (81)
2.12.3 实验设备与器件 (82)
2.12.4 实验内容 (82)
2.12.5 实验报告 (84)
实验2.13 低频功率放大器(集成功率放大器)性能测试 (84)
2.13.1 实验目的 (84)
2.13.2 实验原理 (84)
2.13.3 实验设备与器件 (87)
2.13.4 实验内容 (87)
2.13.5 实验报告 (87)
实验2.14 直流稳压电源(串联型晶体管稳压电源)性能测试 (88)
2.14.1 实验目的 (88)
2.14.2 实验原理 (88)
2.14.3 实验设备与器件 (90)
2.14.4 实验内容 (90)
2.14.5 实验报告 (92)

第3章 数字电子技术实验 (93)
实验3.1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 (93)
3.1.1 实验目的 (93)
3.1.2 实验原理 (93)
3.1.3 实验设备与器件 (96)
3.1.4 实验内容 (97)

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