7．2．3 TEM图像的衬度原理
7．2．4 TEM的样品制备技术
7．3 TEM在聚合物研究中的应用
7．3．1 聚合物表面起伏的微观结构
7．3．2 多相组分的聚合物微观织态结构
7．3．3 颗粒的聚合物形状、大小、粒度分布
7．3．4 聚合物的增韧机理问题
7．4 扫描电子显微镜
7．4．1 SEM的成像原理
7．4．2 SEM的结构及主要性能指标
7．4．3 SEM的衬度及其调节
7．4．4 SEM用聚合物试样的制备技术
7．4．5 光学显微镜、扫描电镜和透射电镜的性能的比较
7．5 扫描电镜在聚合物研究中的应用
7．5．1 纤维的结构及缺陷特征
7．5．2 聚合物共混及多相复合体
7．5．3 有序膜及有序微孔材料
7．5．4 聚合物高压下的结晶行为
7．6 原子力显微镜
7．6．1 原子力显微镜的结构与原理
7．6．2 原子力显微镜在高分子中的应用
参考文献
思考题

第8章 表面分析
8．1 电子能谱的基本概念
8．2 电子能谱的基本原理
8．2．1 XPS的基本原理
8．2．2 UPS的基本原理
8．2．3 AES的基本原理
8．3 电子能谱实验技术
8．3．1 样品的制备
8．3．2 荷电效应
8．4 电子能谱在高分子中的应用
8．4．1 高分子金属络合物
8．4．2 共聚物表面的测定
8．4．3 聚合物的辐射交联
8．4．4 化学组成及微相结构
8．4．5 薄膜厚度的测定
参考文献
思考题

第9章 X射线衍射分析法
9．1 X射线引论
9．1 1 X射线的基本性质
9．1．2 X射线与物质的相互作用
9．1．3 X射线的相关技术
9．2 X射线衍射理论
9．2．1 晶体学基础
9．2．2 X射线的衍射的方向
9．2．3 多晶体对X射线衍射
9．2．4 多晶体的衍射强度
9．3 X射线衍射仪装置
9．3．1 X射线衍射仪部件
9．3．2 X射线衍射分析参数
9．3．3 X射线衍射仪附件
9．4 X射线衍射分析技术
9．4．1 X射线物相分析
9．4．2 晶格常数的分析
9．4．3 应力的分析
9．4．4 晶体粒度大小的分析
9．4．5 X射线小角散射分析
9．4．6 高聚物结晶度和取向度的分析
9．4．7 晶体结构的分析
参考文献
思考题

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