材料分析测试技术与应用
材料分析测试技术与应用作者:马毅龙 开 本:16开 书号ISBN:9787122301765 定价:38.0 出版时间:2017-09-13 出版社:化学工业 |
材料分析测试技术与应用 本书特色
本书内容是材料相关学科的重要必修知识,书中内容包括材料现代测试技术基础、衍射技术、电子显微分析技术、热分析技术、常用物理及化学相关测试分析方法等。全书注重基本原理和实际应用,共分为7章,第1章为X射线衍射分析原理、方法及应用;第2章为扫描电子显微分析;第3章为透射电子显微分析;第4章为热分析技术;第5章为原子力显微镜;第6章为常用物性测试分析方法;第7章为常用光谱分析方法简介。本书根据实际教学和应用需要,为适应材料学、材料科学与工程、金属材料工程、无机材料工程、纳米材料与技术等材料类相关专业的教学而编写,也可作为冶金、石油、机械、化工等专业的教材,并可供相关专业的工程技术人员参考。
材料分析测试技术与应用 目录
第1章 X射线衍射分析原理、方法及应用11.1晶体结构简介11.1.1晶体结构的基本特点11.1.2点阵与点阵结构21.1.3晶体的宏观对称性31.1.4倒易点阵61.1.5晶带及晶带定理81.2X射线基础91.2.1X射线简介91.2.2连续X射线谱101.2.3特征X射线谱111.3晶体对X射线衍射121.3.1衍射方向121.3.2衍射强度131.3.3X射线辐射防护151.4X射线衍射仪151.4.1X射线发生器161.4.2测角仪171.4.3X射线探测仪171.4.4测量方式和实验参数的选择181.5粉末衍射方法应用191.5.1物相分析191.5.2晶胞参数的精确测定及其应用201.5.3薄膜分析中常用的X射线方法211.6实例211.6.1Jade基本功能211.6.2Jade的用户界面221.6.3查看PDF卡片221.6.4物相定性分析251.6.5物相定量分析281.6.6晶粒大小及微观应变的计算30思考题33参考文献33第2章 扫描电子显微分析342.1扫描电子显微镜简介342.2电子束与样品相互作用产生的信号342.2.1二次电子342.2.2背散射电子352.2.3特征X射线362.2.4俄歇电子372.3扫描电子显微镜的工作原理382.4扫描电子显微镜的基本结构392.4.1电子光学系统402.4.2信号收集处理、图像显示和记录系统422.4.3真空系统与电源系统432.5扫描电子显微镜的性能432.5.1放大倍数432.5.2分辨率442.5.3景深442.6扫描电子显微镜衬度原理452.6.1表面形貌衬度452.6.2成分衬度472.6.3电压衬度482.6.4磁衬度482.7电子探针显微分析482.7.1电子探针的发展482.7.2电子探针的基本原理及构造482.7.3电子探针分析方法522.7.4样品制备要求532.7.5电子探针的应用532.8电子背散射衍射及应用542.8.1EBSD的结构及基本原理542.8.2EBSD的分辨率552.8.3EBSD样品的制备562.8.4EBSD的应用572.9扫描电子显微镜样品的制备582.10常见典型断口592.10.1韧窝断口592.10.2解理断口592.10.3准解理断口602.10.4脆性沿晶断口602.10.5疲劳断口61思考题61参考文献62第3章 透射电子显微分析633.1透射电子显微镜简介633.1.1透射电子显微分析发展简史633.1.2透射电子显微镜的分辨率643.2电磁透镜的像差653.2.1几何像差663.2.2色差683.3透射电子显微镜的结构与成像原理683.3.1电子光学系统683.3.2辅助系统743.3.3透射电子显微镜成像原理753.4电子衍射753.4.1电子衍射基本原理763.4.2选区电子衍射773.4.3磁转角783.4.4单晶体电子衍射花样标定783.4.5多晶体电子衍射花样标定803.5透射电子显微镜衬度原理803.5.1质厚衬度803.5.2衍射衬度813.5.3相位衬度823.6扫描透射电子显微镜833.6.1扫描透射电子显微镜的工作原理833.6.2扫描透射电子显微镜的特点833.7透射电子显微镜样品制备853.7.1表面复型技术853.7.2薄膜制备技术863.7.3粉末制备技术903.7.4透射电子显微镜样品制备的其他方法913.8透射电子显微镜的应用913.8.1形貌分析913.8.2晶体缺陷分析923.8.3晶体结构分析933.9透射电子显微镜的基本操作95思考题96参考文献97第4章 热分析技术984.1热分析技术简介984.2热重分析法994.2.1系统组成994.2.2基本原理994.2.3影响因素1014.2.4测试技术1024.3差热分析法1034.3.1系统组成1034.3.2基本原理1044.3.3影响因素1054.3.4测试技术1064.4差示扫描量热法1064.4.1系统组成与原理1064.4.2影响因素1074.4.3测试方法1084.5热分析的应用1084.5.1差热分析及差示扫描量热分析法的应用1084.5.2热重分析法的应用1114.5.3热分析技术的发展趋势111思考题112参考文献112第5章 原子力显微镜1135.1原子力显微镜的基本知识1135.1.1显微技术简介1135.1.2原子力显微镜工作原理1145.1.3原子力显微镜的功能技术1185.2原子力显微镜的应用1225.2.1在材料科学方面中的应用1225.2.2在其他有关方面中的应用1275.3原子力显微镜的表面分析1295.4原子力显微镜与其他显微分析技术1305.4.1原子力显微镜与其他显微分析技术的比较1305.4.2原子力显微镜与扫描电子显微镜132思考题133参考文献133第6章 常用物性测试分析方法1356.1磁性测量系统1356.1.1设计原理1356.1.2测量选项1376.1.3MPMS设备的应用和需要注意的问题1386.2物理性质测量系统1406.2.1设计简介1416.2.2基本系统1416.2.3测量原理和方法1436.2.4PPMS的主要应用1466.2.5PPMS需要注意的问题1476.3电滞回线测试系统1476.3.1铁电体的概念1476.3.2铁电体的特点1486.3.3测量仪简介1496.3.4测量结果1506.4太阳能电池测试系统1516.4.1太阳能电池的基本原理1516.4.2太阳能电池参数的定义1516.4.3太阳光模拟器1526.4.4太阳光模拟器的主要指标1526.4.5测试方法1546.4.6测试结果154思考题159参考文献159第7章 常用光谱分析方法简介1607.1光谱分析方法1607.2紫外-可见光谱1617.2.1简介1617.2.2基本原理和系统组成1617.3红外吸收光谱1667.3.1简介1667.3.2基本原理和系统组成1667.3.3样品制备1697.3.4应用举例1707.4拉曼光谱1707.4.1简介1707.4.2激光拉曼光谱与红外光谱比较1727.4.3试验设备和实验技术172思考题173参考文献174附录175附录1常见晶体的标准电子衍射花样175附录2立方晶体和六方晶体可能出现的反射181
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