典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践
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典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术:理论与实践作者：俞晓磊 开 本：16开 书号ISBN：9787030463623 定价：78.0 出版时间：2015-11-01 出版社：科学出版社 |
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