电子元器件失效分析技术
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电子元器件失效分析技术作者：恩云飞 开 本：16开 书号ISBN：9787121272301 定价：98.0 出版时间：2015-10-01 出版社：电子工业出版社 |
电子元器件失效分析技术 作者简介
恩云飞，工业和信息化部电子第五研究所研究员，中国电子学会可靠性分会委员，中国电子学会真空电子分会委员，中国电子学会第八届理事会青年与志愿者工作委员会委员，广东省电子学会理事，《失效分析与预防》编委会委员，长期从事电子元器件可靠性工作，在电子元器件可靠性物理、评价及试验方法等方面取得显著研究成果，先后获省部级科技奖励10项，发表学术论文40余篇，申请及授权国家发明专利10余项。
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