数字系统测试和可测试性设计 本书特色

本书论述了数字系统测试和可测试性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用verilog模型和verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。 本书广泛使用verilog和verilog pli编写测试应用，这也是本书与其他有关数字系统测试和可测试性设计的*大区别。 此外，本书还广泛使用测试平台和相应的测试平台开发技术。在开发测试平台和虚拟测试机的过程中，本书使用了pli，pli是一个功能强大的编程工具，它提供与用verilog语言描述的硬件进行交互的接口。这种硬件/软件混合的环境有助于本书描述复杂的测试程序和测试策略。

数字系统测试和可测试性设计 目录

译者序
前言
概述
致谢
第1章　数字电路测试的基础知识和hdl的作用 / 1
1.1　设计及测试 / 1
1.1.1　rtl设计流程 / 1
1.1.2流片后测试 / 4
1.2测试重点 / 7
1.2.1　测试方法 / 7
1.2.2可测试性方法 / 9
1.2.3　检测方法 / 11
1.2.4测试成本 / 11
1.3数字系统测试中的hdl / 13
1.3.1硬件建模 / 13
1.3.2制定测试方法 / 13
1.3.3虚拟测试机 / 14
1.3.4可测试性硬件评估 / 14
1.3.5协议感知自动测试设备 / 14
1.4自动测试设备结构及仪器 / 14
1.4.1数字激励及测量仪器 / 15
1.4.2dc仪器 / 15
1.4.3ac仪器 / 15
1.4.4rf仪器 / 15
1.4.5自动测试设备 / 16
1.5小结 / 17
第2章　用于设计和测试的verilog hdl / 18
2.1使用hdl开发测试方法的原因 / 18
2.2将verilog用于设计 / 19
2.2.1将verilog用于仿真 / 19
2.2.2将verilog用于综合 / 19
2.3将verilog用于测试 / 20
2.3.1无故障电路分析 / 21
2.3.2故障表编制及可测试性分析 / 21
2.3.3故障仿真 / 21
2.3.4测试生成 / 22
2.3.5可测试性硬件设计 / 22
2.4verilog的基本结构 / 23
2.4.1模块、端口、连线及变量 / 24
2.4.2抽象的层级 / 25
2.4.3逻辑值系统 / 25
2.5组合电路 / 26
2.5.1晶体管级描述 / 26
2.5.2门级描述 / 26
2.5.3运算级描述 / 27
2.5.4过程级描述 / 28
2.5.5实例化其他模块 / 29
2.6时序电路 / 30
2.6.1寄存器和移位寄存器 / 31
2.6.2状态机编码 / 31
2.7完整示例（加法器） / 35
2.7.1控制/数据划分 / 35
2.7.2加法器的设计规格 / 36
2.7.3cpu的实现 / 36
2.8测试平台技术 / 40
2.8.1测试平台技术 / 41
2.8.2简单的组合测试平台 / 41
2.8.3简单的时序测试平台 / 42
2.8.4限制数据集 / 43
2.8.5同步数据和响应处理 / 44
2.8.6随机时间间隔 / 45
2.8.7文本io / 45
2.8.8仿真代码覆盖率 / 47
2.9pli基础知识 / 48
2.9.1访问例行程序 / 49
2.9.2hdl/pli实现的步骤 / 49
2.9.3在hdl/pli环境中注入故障 / 51
2.10小结 / 54
第3章　故障和缺陷建模 / 55
3.1故障建模 / 55
3.1.1故障抽象 / 56
3.1.2功能故障 / 58
3.1.3结构故障 / 58
3.2门级结构故障 / 60
3.2.1确认故障 / 60
3.2.2固定开路故障 / 61
3.2.3固定为0的故障 / 62
3.2.4固定为1的故障 / 62
3.2.5桥接故障 / 62
3.2.6状态依赖型故障 / 63
3.2.7多故障 / 64
3.2.8单固定结构故障 / 64
3.2.9检测单固定故障 / 70
3.3与门级故障相关的问题 / 71
3.3.1检测桥接故障 / 71
3.3.2不可检测的故障 / 72
3.3.3冗余故障 / 72
3.4故障压缩 / 72
3.4.1难以区分的故障 / 72
3.4.2等效单固定故障 / 73
3.4.3面向门的故障压缩 / 74
3.4.4面向线路的故障压缩 / 75
3.4.5重汇聚扇出的问题 / 76
3.4.6支配性故障压缩 / 76
3.5基于verilog的故障压缩 / 78
3.5.1用于故障压缩的verilog测试平台 / 78
3.5.2故障压缩的pli实现 / 79
3.6小结 / 83
第4章　故障仿真应用与方法 / 84
4.1故障仿真 / 84
4.1.1门级故障仿真 / 84
4.1.2故障仿真要求 / 85
4.1.3hdl环境 / 86
4.1.4时序电路故障仿真 / 90
4.1.5故障排除 / 91
4.1.6相关术语 / 91
4.2故障仿真应用 / 92
4.2.1故障覆盖率 / 92
4.2.2测试生成中的故障仿真 / 94
4.2.3故障字典创建 / 95
4.3故障仿真技术 / 100
4.3.1串行故障仿真 / 102
4.3.2并行故障仿真 / 104
4.3.3并发故障仿真 / 107
4.3.4演绎故障仿真 / 109
4.3.5演绎故障仿真的比较 / 112
4.3.6关键路径追踪故障仿真 / 112
4.3.7微分故障仿真 / 115
4.4小结 / 115
第5章　测试向量生成方法及算法 / 116
5.1测试生成基础知识 / 116
5.1.1布尔差分 / 116
5.1.2测试生成过程 / 118
5.1.3故障和测试 / 118
5.1.4术语和定义 / 119
5.2可控性和可观察性 / 120
5.2.1可控性 / 120
5.2.2可观察性 / 120
5.2.3基于概率的可控性和可观察性 / 121

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