材料现代分析技术
材料现代分析技术作者:朱和国 开 本:16开 书号ISBN:9787118080919 定价:42.0 出版时间:2012-08-01 出版社:国防工业出版社 |
材料现代分析技术 内容简介
《材料现代分析技术》首先介绍了晶体学基础知识,然后系统介绍了x射线的物理基础、x射线衍射的方向与强度、多晶体x射线衍射分析的方法、x射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用;介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用;介绍了俄歇电予能谱仪(aes)、x射线光电子能谱仪(xps)、扫描隧道电镜(stm)、低能电子衍射(leed)等常用表面分析技术和热重分析法(tg)、差热分析法(dta)、差示扫描量热法(dsc)等常用热分析技术的原理、特点及其应用;*后简要介绍了光谱分析技术,包括原子光谱、红外光谱、激光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属问化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结,并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线,同时在实例分析中还注重—引入了一些当前材料界*新的研究成果。 《材料现代分析技术》可作为材料科学与工程学本科生的学习用书,也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。
材料现代分析技术 目录
目录回到顶部↑ 《材料现代分析技术》第1章晶体学基础
1.1晶体及其基本性质
1.2晶向、晶面及晶带
1.3晶体的宏观对称及点群
1.4晶体的微观对称与空间群
1.5晶体的投影
1.6倒易点阵
本章小结
思考题
第2章x射线的物理基础
2.1 x射线的发展史
2.2 x射线的性质
2.3 x射线谱
2.4 x射线与物质的相互作用
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