集成电路系统设计、验证与测试
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集成电路系统设计、验证与测试作者：（美）Louis Scheffer 等著 开 本：16开 书号ISBN：9787030214904 定价：62.0 出版时间：2008-06-01 出版社：科学出版社 |
随着电路规模的增大，掩膜的制造亟需录入上的协助。起初有一些数字化的程序，虽然设计人员还是用彩色铅笔绘图，但是这些程序将坐标输入计算机，接着写入磁带，然后传送给掩膜制造设备。很快这些早期的程序被开发成完善的版图编辑器。首次开发这些程序是在20世纪60年代末和70年代初。如同“面向模拟IC和混合信号SoC的版图工具的调查”中证实的那样，虽然随着自动版图技术方面进行的多次实验，出现了一些更加自动优化的发展，但是现代时期模拟设计的版图仍然大幅度地依赖手工进行绘制。
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工业技术 电子通信 微电子学、集成电路（IC）
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