仪器分析-光谱与电化学分析技术
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仪器分析-光谱与电化学分析技术作者:吕宪禹 开 本:16开 书号ISBN:9787122090812 定价:19.0 出版时间:2010-08-01 出版社:化学工业出版社 |
仪器分析-光谱与电化学分析技术 本书特色
《仪器分析:光谱与电化学分析技术》是高职高专“十一五”规划教材。
仪器分析-光谱与电化学分析技术 内容简介
本书是高职高专化工技术类工业分析与检验专业规划教材。本书的编写主要是适应高职教育对教材需求,删繁就简,力求有一个通用的、简明的教材适合高职院校选用。
本书具体内容包括:绪论、分子吸光分析法、分子发光分析法、原子光谱分析法、电位分析法、库仑分析法六章。每章后都有实训项目,实训着重点放在基本操作技能要求,拓展知识可参阅其他专著和教材。
本书可作为高职高专化工技术类专业或其他相近专业“仪器分析”或“仪器分析检测技术”课程的教材;也可作为化学检验、药物分析检验、高级及中级分析人员培训用书;还可作为从事分析检验的高级及中级分析技术人员参考用书。
仪器分析-光谱与电化学分析技术 目录
**章 绪论一、仪器分析法及其特点
二、仪器分析法基本内容和分类
三、仪器分析的发展方向
第二章 分子吸光分析法
**节 光谱分析法导论
第二节 紫外?可见吸收光谱
第三节 紫外?可见分光光度计
第四节 紫外?可见吸收光谱法的应用
第五节 红外吸收光谱法
本章小结
思考题与习题
第三章 分子发光分析法
**节 概述
第二节 分子荧光分析法
第三节 分子磷光分析法
第四节 化学发光分析法
第五节 分子发光分析法应用简介
本章小结
思考题与习题
第四章 原子光谱分析法
**节 光谱分析法概述
第二节 原子发射光谱仪的结构及主要类型
第三节 原子发射光谱分析和应用
第四节 原子吸收光谱分析法的基本原理
第五节 原子吸收光谱的测量
第六节 原子吸收光谱仪
第七节 原子吸收定量分析方法
第八节 实验技术
第九节 灵敏度与检出限
第十节 原子吸收光谱法的应用
第十一节 原子荧光分析法
第五章 电位分析法
第六章 库仑分析法
参考文献
仪器分析-光谱与电化学分析技术 节选
《仪器分析:光谱与电化学分析技术》是高职高专化工技术类工业分析与检验专业规划教材。《仪器分析:光谱与电化学分析技术》的编写主要是适应高职教育对教材需求,删繁就简,力求有一个通用的、简明的教材适合高职院校选用。《仪器分析:光谱与电化学分析技术》具体内容包括:绪论、分子吸光分析法、分子发光分析法、原子光谱分析法、电位分析法、库仑分析法六章。每章后都有实训项目,实训着重点放在基本操作技能要求,拓展知识可参阅其他专著和教材。《仪器分析:光谱与电化学分析技术》可作为高职高专化工技术类专业或其他相近专业“仪器分析”或“仪器分析检测技术”课程的教材;也可作为化学检验、药物分析检验、高级及中级分析人员培训用书;还可作为从事分析检验的高级及中级分析技术人员参考用书。
仪器分析-光谱与电化学分析技术 相关资料
插图:在荧光分析中,可以采用不同的实验方法以进行分析物质浓度的测定。其中最简单的是直接测定法。只要分析物质本身发荧光,便可以通过测量其荧光强度来测定其浓度。许多有机芳族化合物和生物物质都具有内在荧光的性质,往往可以直接进行荧光测定。当然,若有其他干扰物质存在时,则应预先采用掩蔽或分离的办法加以消除。在实际操作中,荧光强度的测量通常是采用相对的测量方法,因而需要采用某种标准用来比较。最普通的校正方法是采用工作曲线法。即取已知量的分析物质,经过与试样溶液一样的处理后,配成一系列的标准溶液,并测定它们的荧光强度,再以荧光强度对标准溶液的浓度绘制工作曲线。然后由所测得的试样溶液的荧光强度对照工作曲线,以求出试样溶液中分析物质的浓度。严格说来,标准溶液和试样溶液的荧光强度读数,都应扣除空白溶液的荧光强度读数。理想的或者真实的空白溶液,原则上应当具有与未知试样溶液中除分析物质以外的同样的组成。可是对于实际遇到的复杂分析体系,很少获得这种真实的空白溶液,在实验中通常只能采用近似于真实空白的试剂空白来代替。然而试剂空白无法校正原已存在于试样中的基体和杂质,如果这种基体和杂质的干扰不可能通过光谱的办法加以消除的话,就必须采用化学或者物理分离的办法。2.间接测定法对于有些物质,它们本身不发荧光,或者因荧光量子产率很低而无法进行直接测定,便只能采用间接测定的办法。间接测定的办法有多种,可按分析物质的具体情况加以适当的选择。例如荧光衍生法、荧光猝灭法、敏化荧光法等。荧光衍生法是指通过某种手段使本身不发荧光的待分析物质,转变为另一种发荧光的化合物,再通过测定该化合物的荧光强度,可间接测定待分析物质。荧光衍生法大致可分为化学衍生法、电化学衍生法和光化学衍生法。假如分析物质本身虽不发荧光,但却具有能使某种荧光化合物的荧光猝灭的能力,由于荧光猝灭的程度与分析物质的浓度有着定量的关系,那么通过测量荧光化合物荧光强度的下降程度,便可间接地测定该分析物质。例如,大多数过渡金属离子与具有荧光性质的芳族配位体配合后,往往使配位体的荧光猝灭,从而可间接测定这些金属离子。
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